TOFD检测工艺参数和实际操作记录

考 核 号： 姓 名： 身份证号：

TOFD检测工艺参数和实际操作记录

TOFD检测工艺参数记录 工件名称 工件材质 坡口型式 焊缝宽度 执行标准 检测部位 仪器型号 编码器型号 探头型号 晶片尺寸(mm) PCS (mm) 模拟试块 Q345R X型（或V型） 上 mm 下 mm JB/T4730.10报批稿 焊缝和热影响区 Isonic Star BLC-TOFD RUSSELL CX-397 Φ6 （实际板厚×2.3） 工件编号 工件规格 焊接方法 表面状况 扫查方式 检测比例 仪器编号 耦合剂 探头频率(MHz) 楔块角度 (°) 表面补偿（Db） （实际为准） 长×宽×高 SMAW 光滑 非平行扫查 100% （位于仪器底部） 机油 5 60 0 灵敏度设置 直通波40~80%

TOFD检测实际操作记录

步骤一：根据提供的TOFD检测仪器、探头、楔块和试板，测量或计算以下数据: 1、探头延时，答案 2T0 微秒；探头的入射点，答案 L0 毫米。 2、计算直通波的到达时间（包括探头延时），答案 微秒。 3、计算底面波的到达时间（包括探头延时），答案 微秒。 步骤二：在试板上正确地调试仪器，校准编码器。

步骤三：在试板上完成非平行扫查D扫描成像。(标签左上角或右上角从左至右探头与左端面平齐)

用“姓的首字字母—考核号—试板号”作为文件名，存储数据。 文件名称： W-008-008 （实际为准） 步骤四：数据分析

1、打开文件，测量试板的厚度（精确到0.1mm），答案 毫米。 2、识别缺陷信号，并测量其位置、长度、高度等数值。 步骤五：数据记录与评定 在下表中记录以下缺陷： 1、 表面开口缺陷；

2、 长度大于10毫米的缺陷； 3、 高度大于3毫米的缺陷。

检测数据文件名称

缺陷编号 备注： 注意事项：

1、试板两端20mm范围内的缺陷不计

2、起始点为软件里测量缺陷X轴值 3、长度测量多少写多少 4、自身高度测量多少写多少

5、在备注里画缺陷示意图,并标注起点和长度以及对应序号

数据判读表填写要求：

1、 只记录根据标准评级二级以上缺陷 2、 两端20mm内缺陷不计 3、 评级时两端超过20mm不计

4、 扫查方向起始点X轴（两端20mm计入）

缺陷在扫查方向位置（mm） 起始点 长度 缺陷在深度方向位置（mm） 上端点 （深度） 自身高度 埋藏 缺陷类别 上表面开口 下表面开口